Изображение Деталь Производитель Описание Мин. заказ Наличие Действие
SN74BCT8373ADW Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8373ADWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8373ADWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8373ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8373ADWRG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
1 / 1 Page, 5 Records