144 Записи
Изображение Деталь Производитель Описание Мин. заказ Наличие Действие
SN74FB2040RC Texas Instruments
IC 8-BIT TTL/BTL XCVR 52-QFP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74LVT8980DW Texas Instruments
IC TEST-BUS CONTROLLER 24-SOP
1
RFQ
47,735
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74ABT8952DW Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74ABT8952DL Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
N74F656AN,602 Freescale Semiconductor - NXP
IC BUFFER/LDRIVER OCTAL 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT29854DWR Texas Instruments
IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT29854DWRE4 Texas Instruments
IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT29854NT Texas Instruments
IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8240ADWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8240ADWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8240ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8240ANTG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8244ADWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8244ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8244ANTG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8245ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8245ANTG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8373ADWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8373ADWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8373ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
4 / 8 Page, 144 Records