253 Записи
Изображение Деталь Производитель Описание Мин. заказ Наличие Действие
SN74AS181ANTG4 Texas Instruments
IC ARITHMETIC LOGIC UNIT 24DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT2414DWR Texas Instruments
IC DECODER MEM DUAL 2-4 20-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT29854DWR Texas Instruments
IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT29854DWRE4 Texas Instruments
IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT29854NT Texas Instruments
IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8240ADWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8240ADWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8240ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8240ANTG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8244ADWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8244ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8244ANTG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8245ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8245ANTG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8373ADWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8373ADWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8373ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8374ADWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8374ADWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8374ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
10 / 13 Page, 253 Records