Изображение Деталь Производитель Описание Мин. заказ Наличие Действие
74ABT899CSCX Fairchild Semiconductor
REGISTERED BUS TRANSCEIVER
1
RFQ
42,265
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
74ABT899CSCX Fairchild/ON Semiconductor
TXRX W/GENERATOR&CHECKER 28SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
74ABT899CSC Fairchild/ON Semiconductor
TXRX W/GENERATOR&CHECKER 28SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74ABT8952DWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74ABT8952DW Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74ABT8543DWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74ABT8543DWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74ABT8646DWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74ABT8646DWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74ABT8652DWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74ABT8652DWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74ABT8543DWRG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74ABT8646DWRG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74ABT8652DWRG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
1 / 1 Page, 14 Records