Изображение Деталь Производитель Описание Мин. заказ Наличие Действие
CD74HCT181EN Harris Corporation
4-BIT ARITHMETIC LOGIC UNIT
1
RFQ
41,033
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
74F181PC National Semiconductor
ALU, F/FAST SERIES, 4-BIT, TTL
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
DM93S41N Fairchild Semiconductor
ARITHMETIC LOGIC UNIT
1
RFQ
28,273
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
74F181SPC Fairchild Semiconductor
ALU, F/FAST SERIES, 4-BIT, TTL
1
RFQ
15,783
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
NTE74181 NTE Electronics, Inc
IC-TTL FUNCTION GENERATOR DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
74F181PC Fairchild/ON Semiconductor
IC ARITHMETIC LOGIC 4BIT 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
74F181SPC Fairchild/ON Semiconductor
IC ARITHMETIC LOGIC 4BIT 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
MC10H330P Fairchild/ON Semiconductor
IC DRIVER/RCVR QUAD BUS 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
MC10H330PG Fairchild/ON Semiconductor
IC DRIVER/RCVR QUAD BUS 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74AS181ANT Texas Instruments
IC ARITHMETIC LOGIC UNIT 24DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74AS181ANTG4 Texas Instruments
IC ARITHMETIC LOGIC UNIT 24DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT29854NT Texas Instruments
IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8240ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8240ANTG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8244ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8244ANTG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8245ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8245ANTG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену
SN74BCT8373ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
SN74BCT8374ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
1
RFQ
8,500
В наличии
Запросить цену Купить сейчас
1 / 2 Page, 23 Records